Tessent Automotive IC 调试与优化
Tessent 嵌入式分析可加快复杂多核 SoC 的调试、验证和优化。利用嵌入式非侵入式仪器,如总线监视器、NoC 监视器和 CPU 调试模块等,
操作软件在系统上运行时,调试和软件工程师可以观察设计中发生的情况 。这些仪器通过广泛的测量、分析和统计数据收集,实现了对总线上流量的事务级完全可见性。所有这些都是高度可配置的,并且包括“逻辑分析器”风格的控件和依赖关系、本地缓冲及交叉触发。
所有 Tessent 嵌入式分析监视器 (IP) 都可以通过专用安全通信基础架构进行访问。 通过 USB 2、USB 3、JTAG 或 Aurora 接口,可以方便地使用片外主机或调试器实施非侵入式调试和监控。 嵌入式软件可以通过 AXI 接口驱动系统,创建独立的片上监控系统。
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