TetraMAX II将测试向量的生成时间从数天缩短到数小时

新型ATPG引擎将运行时速度提高至少一个数量级，从而降低了测试成本，并将向量数量减少25%

新思科技（Synopsys, Inc.，纳斯达克股票市场代码：SNPS）日前揭晓其下一代ATPG和诊断解决方案TetraMAX® II。该方案结合了2015年10月在国际测试大会上发布的创新测试引擎。TetraMAX II能够将运行时的速度提高至少一个数量级，将ATPG运行时从数天缩短到数小时，确保在初步硅晶样品首次用于测试时将向量准备就绪。此外，TetraMAX II生成的向量数量减少25%，使IC设计团队能够缩短测试硅晶部件的时间并减低成本，而且还能应汽车等特殊市场细分的要求，在不影响测试成本的前提下提升测试质量。经过生产验证的ATPG界面的复用可以确保无风险地轻松部署到设计和测试流程中。用户将在班加罗尔里拉皇宫酒店（Leela Palace Hotel）举办的Synopsys用户集团（SNUG）印度会议上分享其对TetraMAX II的使用体验。

TetraMAX II在新的测试生成、故障模拟和诊断引擎上构建。这些引擎速度极快，存储效率极高，针对生成向量进行了高度优化，并且能够执行细粒度、多线程的ATPG和诊断流程。这些创新能够促进测试向量的大幅减少，并将ATPG时间从数天缩短到数小时。TetraMAX II无与伦比的内存效率可以实现所有服务器内核（无论设计尺寸如何）的充分利用，超越了受限于高内存使用率的以往解决方案。经过生产验证的设计建模和规则校验基础架构以及用户和工具界面的复用确保设计人员能够快速、无风险地在其最具挑战性的设计上部署TetraMAX II。此外，TetraMAX II还利用与Synopsys Galaxy Design Platform工具建立的链接来提供最高质量的测试和速度最快、生产力最高的流。Galaxy Design Platform工具包括DFTMAX ™解决方案、PrimeTime®时序分析和StarRC提取工具，以及包括Yield Explorer®产量管理和Verdi®调试工具在内的其他Synopsys工具。

Synopsys设计集团执行副总裁兼总经理Antun Domic表示：“世界各地的设计人员依靠Synopsys基于综合的测试解决方案来在其最具挑战性的设计上实现最高的测试质量。TetraMAX II证明我们在不断践行承诺，提供创新和突破性测试技术，并且满足客户对于更快ATPG和诊断的需求以及减少硅晶测试时间的需求。”

关于Synopsys基于合成的测试解决方案

Synopsys基于综合的测试解决方案包括用于可测试性分析的 SpyGlass® DFT ADV、以及基于功耗敏感测试与硅片诊断的DFTMAX ,DFTMAX Ultra、TetraMAX I和TetraMAX II；用于IP和SoC内核分层测试的DesignWare® STAR Hierarchical System；用于嵌入式测试、修复和诊断的DesignWare STAR Memory System®解决方案；用于以设计为中心产量分析的Yield Explorer工具；以及用于CAD导航的Camelot™软件系统。Synopsys的测试解决方案结合了Design Compiler® RTL综合以及嵌入式测试技术，可优化时序、功率、区域、拥塞，以供测试之用，还可优化功能逻辑，从而在更短时间内获得成果。Synopsys测试解决方案提供跨Synopsys Galaxy Design Platform的紧密集成，包括Design Compiler、IC Compiler™ II布局和绕线工具，以及PrimeTime时序验收，以实现更短的周转时间，同时满足设计与测试目标，实现更高的缺陷覆盖以及更快的良率提升。

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关于Synopsys

新思科技（Synopsys, Inc.，纳斯达克股票市场代码：SNPS）是各家创新公司在从芯片（Silicon）到软件（Software）等多个领域内的合作伙伴，这些公司开发了我们每天所依赖的电子产品和软件应用。作为世界第15大软件公司，Synopsys长期以来一直是电子设计自动化（EDA）和半导体IP领域内的全球领导者，同时其在软件质量和安全解决方案方面的领导地位仍在不断提高。无论您是创造先进半导体产品的SoC设计人员，还是编写需要最高质量和安全性的应用软件开发人员，Synopsys都有开发各种创新的、高质量和安全的产品所需的解决方案。更多信息，请访问www.synopsys.com。